電氣技術(shù)指標
zui大偏差： E1 影響因素 位置
E1 偏差影響 0%
E2 影響因素 電壓
E2 偏差影響 0%
E3 影響因素 溫度 E3
E3 偏差影響 2.3 %
E4 影響因素 串行干擾電壓 （20 V）
E4 偏差影響 0.6 %
E5 影響因素 探針和輔助探針電阻
E5 偏差影響 10%
 
測試電壓 3.7 kV
 
保護等級 IP 40；IEC/EN 60529
 
電磁兼容性 輻射：EC/EN 61326，B 類
抗擾：IEC/EN 61326，附錄 C
 
RE 電阻測量 測量方法 使用改進的串擾衰減方法進行電流-電壓測量，無需補償導線電阻測量，使用探針（三極）或不使用探針（兩極），符合 IEC/EN 61557-5 標準
開放電路電壓 23 至 24 V ac
短路電流 > 50 mA ac
測量頻率 128 Hz
zui大許可過載 250 Veff
 
測量時間 8 秒（從按“開始”起計算的平均值）
 
限制輸入 即使測試儀關(guān)閉，仍會保留設定值（如果電池電量充足）
 
自動切換分辨率 RH < 7 kΩ
分辨率 0.01 Ω
RH < 50 kΩ
分辨率 0.1 Ω
RH > 50 kΩ
分辨率 1 Ω
 
干擾直流和交流電壓顯示 zui大電壓 30 Veff
共模抑制 > 80 dB，50 Hz 和 60 Hz
Ri 680 kΩ
測量誤差 對于純交流電和直流電信號，< 10 %
 

 
Fluke 1621量程
0.15 Ω 至 20 Ω 分辨率 0.01 Ω
顯示范圍 0 至 19.99 Ω
 
200 Ω 分辨率 0.1 Ω
顯示范圍 20 至 199.9 Ω
 
2 kΩ 分辨率 1 Ω
顯示范圍 200 至 1999 Ω
 
基本誤差 ±（測量值的 6 % + 5 位數(shù)字）
 
操作誤差 IEC 61557 ±（測量值的 18 % + 5 位數(shù)字）
 
注： [1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于值，即會閃爍。
測量值不在的操作誤差范圍內(nèi)。